本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡

產(chǎn)品介紹

本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡

儀器簡介：

    CSPM5500是本原納米儀器有限公司于2008年8月研制成功的新一代掃描探針顯微鏡,其功能齊全、性能*、運行穩(wěn)定、使用方便，非常適合用戶開展納米研究工作。

本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡

技術參數(shù)：

(1)國際主流的研究級專業(yè)儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM) 
(2)分辨率： 
    原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.1nm（以云母晶體標定） 
    掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定） 
(3)高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標準樣品進行校準 
(4)一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大于30mm，可容納超大樣品 
(5)兩級可讀數(shù)樣品調節(jié)機構，可對樣品進行精確的檢測區(qū)域定位 
(6)一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際信息 
(7)*進PID反饋算法實現(xiàn)快速高精度作用力控制，確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像，實際掃描速度提升一個數(shù)量級 
(8)系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與計算機連接 
(9)主控機箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統(tǒng)當前狀態(tài)實時顯示 
(10)具備實時在線三維圖像顯示功能，便于用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息

主要特點：

(1) 標準配置： 
    原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式 
    橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能 
    掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等 
    曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

(2)選配功能： 
    納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等； 
    磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡； 
    環(huán)境控制掃描探針顯微鏡； 
    液相掃描探針顯微鏡； 
    導電原子力顯微鏡； 
    掃描探針聲學顯微鏡； 
    掃描開爾文探針顯微鏡； 
    掃描電容顯微鏡； 
    壓電力顯微鏡